主量元素分析实验室

X射线荧光光谱简介

　　X射线荧光光谱（XRF）分析是一种常规的、无污染和非破坏性分析技术。它是由X射线管发出的一次X射线激发样品，使样品所含元素辐射特征荧光X射线也就是二次X射线，根据谱线的波长和强度对被测样品中元素进行定性和定量分析。X射线荧光光谱法也被称为X射线二次发射光谱法。

　　XRF分析技术常用于岩石、土壤、水系沉积物中37种主要、次要元素的固体、粉末样品的定性和定量分析。XRF分析具有以下特点：（1）分析元素范围广，可以测试Be-U之间的元素；（2）测定元素的含量范围宽，可以从10-6级到100%；（3）自动化程度高，分析速度快；（4）分析精度高，重现性好；（5）非破坏性分析，并且分析试样制备比较简便；（6）分析试样可以是固体、粉末、液体和晶体、非晶体等不同物理状态的物质。

仪器介绍

　　XRF实验室隶属于中国科学院广州地球化学研究所同位素地球化学国家重点实验室。目前拥有日本理学X射线荧光光谱仪两台，型号分别为ZSX 100e和ZSX Primus IV。

　　XRF分析是一种常规的、无污染和非破坏性分析技术，常用于固体、粉末样品的定性和定量分析。该技术主要用于岩石、土壤、水系沉积物中37种主要、次要元素的分析。实验室面向国内外高校及科研院所等科研人员和研究生开放，可为地质与环境科学研究提供高质量的分析数据，同时可为冶金、矿业以及钢铁等行业的材料判别和定量分析提供高效服务。

　　主要应用于：1）岩石、土壤等样品定量分析；2）岩石、土壤等样品定性-半定量分析；3）矿物、玻璃等原位无损分析。

1. 日本理学ZSX 100e型X射线荧光光谱仪

生产商：日本株式会社理学（Rigaku），型号：ZSX Primus IV

　　ZSX 100e为2003年完成安装调试验收后投入使用，仪器配备4KW超薄端窗型铑靶X射线管，常用于固体、粉末等的定性和定量分析。其内置的无标样分析技术可对材料进行快速材质判别。该仪器稳定性好、有良好的线性范围（10-6-102），分析精确度好、准确度高，是十多年来科研人员主量元素测试的首选仪器。

  2. 日本理学ZSX Primus IV型X射线荧光光谱仪

生产商：日本株式会社理学（Rigaku），型号：ZSX Primus IV

　　ZSX Primus IV仪器为2019年11月完成安装，属于理学公司最新研制出的一款产品。仪器配备4KW（60kV-150mA）、端窗型Rh靶X射线管；分光晶体：LiF200、LiF220、PET、Ge、RX25；可分析F-U间元素：常量(%)-微量(ppm)；精密度（主、次量元素）RSD%：0.1-1.0；计数线性：闪烁计数器SC（Ti - U）为1800kcps，流气正比计数器F-PC（Be -Zn）为3000kcps；双真空室：可提高整体分析速度,保证光学系统洁净；APC功能：提高轻元素分析准确性。

　　配套设备：Analymate-V8C型4头高频加热熔样机，具多阶段升温功能，熔样速度快、效率高，每年可满足6000多个样品的制样需求。其余设备还包括40吨自动液压压片机、30KVA UPS电源、水冷机等。

实验室成员

王鑫玉，工程师，负责样品制备、XRF日常测试、维护及运行，并负责XRF实验技术开发及应用

　　电话：020-85292712          Email：wangxy@gig.ac.cn          办公室：同位素楼410室

收费标准：

　　实验室对所内外研究人员开放，在仪器状态稳定情况下，可实现一天24小时不间断测试分析。

　　上述收费标准自2020年1月1日起实行。

　　样品准备和注意事项

　　1. 拟分析样品粉末应小于200目。所测样品可以是岩石、土壤、沉积物等。

　　2. 熔片法适用于岩石、土壤等样品的主微量元素的定量分析；粉末压片法适用于粉末样品的定性-半定量分析。

　　3. 禁止采用熔片法熔融重金属矿化的样品（Pb、Cu、Zn>2000ppm, Cr、Ni>5000ppm）、高硫样品(S>2%)和磷酸岩样品。不确定含量者，请先做粉末压片进行半定量扫描。

欢迎来访：

　　广东省广州市天河区科华街511号 中国科学院广州地球化学研究所同位素楼410房， 联系电话：020-85292712